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庫(kù)侖電位差測(cè)厚儀cms2 step 該庫(kù)侖測(cè)厚儀多用于在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。

MP0/MP0R高精度便攜無(wú)損鍍層測(cè)厚儀 小巧、便攜、耐用：FISCHER公司推出的MP0和MP0R系列無(wú)損測(cè)厚儀可以快速、精確地測(cè)量涂鍍層的厚度，滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)于FISCHER一貫的精度等級(jí)的期待。

fischer fmp40 涂層測(cè)厚儀 新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無(wú)損且高精度的涂鍍層厚度測(cè)量。無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控!制，還是在來(lái)料檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的用戶(hù)體驗(yàn)和多樣的選擇來(lái)滿(mǎn)足您的需求。

PHASCOPE PMP10 手持式PHASCOPE®PMP10非常適合電鍍和印刷電路板（PCB）行業(yè)的質(zhì)量控制。 由于該儀器采用了相敏渦流方法（ISO 21 968），因此可以測(cè)量任何基材上的金屬涂層。

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DUALSCOPE MP0手持涂層厚度測(cè)量?jī)x DUALSCOPE MP0：用于測(cè)量黑色金屬或有色金屬材料上的涂層。 DUALSCOPE MP0R：附加的無(wú)線電和USB接口，用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C DUALSCOPE MP0R-FP：使用固定電纜探頭，無(wú)線電和USB接口

fischerscope mms pc2臺(tái)式涂層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE® MMS® PC2高級(jí)臺(tái)式涂層測(cè)厚儀用于通用的涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試，具有彩色觸摸屏、可進(jìn)行個(gè)性化配置并帶有各種設(shè)備接口.嵌入式模塊 BETASCOPE®